Emberion新型石墨烯光电探测器显著降低SWIR成像成本

麦姆斯咨询殷飞 MEMS 2019-06-16


据麦姆斯咨询报道,Graphene Flagship的合作伙伴Emberion将在6月24日至27日德国慕尼黑举办的激光/光电技术博览会(Laser World of Photonics)上推出可见光到短波红外(VIS-SWIR)石墨烯光电探测器。该技术已被列入“慕尼黑博览会创新奖”的候选名单。



该线性阵列可覆盖探测波长从400nm可见光到高达1800nm短波红外的宽光谱范围。通常情况下,这需要硅与InGaAs传感器相结合才能实现该波长范围内的成像。


据Emberion评估,利用其石墨烯光电探测器取代硅与InGaAs传感器组成的系统,将降低30%的成本。


Emberion公司获得了欧盟研究计划(EU research initiative)Graphene Flagship项目的资金支持。其光电探测器将石墨烯晶体管与光吸收层结合在一起。其潜在应用包括食品检验、回收塑料分类、药品认证、农业领域分析和非侵入性医学成像等。


Emberion公司的产品经理Vuokko Lantz博士在一篇关于高光谱成像的文章中表示:“在可见光探测方面,这种探测器目前还无法与硅CMOS技术竞争。但如果扩展到短波红外范围,石墨烯光电探测器将成为‘一种非常有趣的替代方案’。”


Lantz补充道:“我们的探测器可提供与InGaAs探测器在近红外和短波红外区域相类似的性能,并且在可见光区域的性能明显优于InGaAs。”


“正是石墨烯具有的独特性能,以及其可与其他纳米材料相结合的良好兼容性,使我们能够为光谱仪创造这种经济高效的阵列,”Emberion首席执行官Tapani Ryhänen评论道,“这款VIS-SWIR石墨烯光电探测器的优势在于可提供宽光谱性能,且无需传统昂贵的InGaAs传感器;同时它使用Emberion内部设计的读出电路来提供数字输出,因此无需使用其他组件转换模拟数据。”


Emberion公司成立于2016年,是诺基亚公司(Nokia Technologies)的拆分公司。Emberion的VIS-SWIR石墨烯光电探测器将于2019年9月23日至27日在芬兰赫尔辛基举办的“Graphene Week 2019”上正式发布。


Emberion在旧金山举办的2018美国西部光电展览会(SPIE Photonics West2018)上首次展示了VGA VIS-SWIR传感器原型,在那次展会中,西班牙巴塞罗那光子科学研究所(Institute of Photonic Sciences)的Frank Koppens也展示了几款石墨烯-CMOS集成应用。


与Emberion一起入围“Laser World of Photonics创新奖”成像与传感器组别的另一家公司是SWIR Vision Systems。与InGaAs传感器相比,SWIR Vision Systems的量子点SWIR传感器也降低了SWIR成像的成本。


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